國立台灣科技大學-專利商品網-專利推廣清單-使用不規則性與資料反轉技術提升非揮發性記憶體的良率

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技術名稱 Technology

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發明人 Inventor

呂學坤, 李紫琳,

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所有權人 Asignee

國立臺灣科技大學

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專利國家 Country	申請號 Application No.	專利號 Patent No.	中心案號 Serial No.	年費有效日期
美國	13/940,353	US8929166B2	1010081US0	2022/07/06
中華民國	102101601	I486961	1010081TW0	2020/05/31

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技術摘要：

為了提升非揮發性記憶體製程的良率以及改善可靠度，因此提出了一種新的測試和修復流程。製程上發生的錯誤，當顧客所提供的資料寫入後，考量到在邏輯上顯現的效應，提出了高遮蔽可能性的錯誤遮蔽技術以取代傳統的錯誤取代技術。所提出的方法也很容易整合於現有的內建自我測試電路中。我們開發故障模擬器可以進行修復率 (Repair rate) 的分析藉以控制成本，根據實驗結果顯示，修復率與製程良率均可以被大幅度的提升，除此之外硬體額外的負擔也幾乎可以被忽略，詳細可參考附件論文中之摘要。

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