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技術名稱 Technology
發明人 Inventor
葉樹開, 王鎮杰, 方晨譽, 呂怡璇, 覃國寧, 蔡宸維, 李承翰, 許嘉翔,
所有權人 Asignee 國立臺灣科技大學

專利國家 Country 申請號 Application No. 專利號 Patent No. 中心案號 Serial No.
中華民國 115111037 申請中 1140062TW0
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技術摘要:
本發明採用創新的實驗設計,將氣體擴散方向與高分子膨脹方向設計為相互垂直:氣體從徑向通過多孔金屬腔體(孔徑0.5-4μm)進入高分子樣品,而樣品的體積膨脹僅限制在軸向,由精密光學尺(解析度5μm)測量活塞位移來記錄。此設計有效避免了溶脹效應對測量精度的干擾,將複雜的三維體積變化問題簡化為一維的高度測量問題。在數據處理方面,利用光學尺精密記錄的高度變化數據,結合Fick第二定律的解析解進行數值擬合,通過Matlab的fminisearch函數優化求得擴散係數。相較於傳統方法需要復雜的浮力修正計算和Sanchez-Lacombe狀態方程式校正,本方法通過直接的高度測量和數學擬合過程更加簡潔可靠。

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