國立台灣科技大學-專利商品網-專利技術-使用協同式內建錯誤更正碼修復技術提升快閃記憶體良率

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技術名稱 Technology

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發明人 Inventor

呂學坤, 趙俊凱,

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所有權人 Asignee

國立臺灣科技大學

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專利國家 Country	申請號 Application No.	專利號 Patent No.	中心案號 Serial No.
中華民國	114107020	申請中	1130068TW0

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技術摘要：

為了提升快閃記憶體的良率，提出了一種新的修復流程。當測試錯誤資訊被傳出時，會先被傳入BIER (Built-In ECC Repair) 階段內，評估該製造上的錯誤能否在正常操作模式時是否可利用錯誤更正碼加以修復，當評估後無法使用錯誤更正碼修復後時才會使用備用元件進行修復。提出的方法也很容易整合於現有的測試、修復流程及硬體電路中。我們也開發修復模擬器，可以進行修復率 (Repair Rate) 的分析。根據實驗結果顯示，修復率與良率均可以被大幅度的提升，此外硬體成本、效能損耗和對可靠度的影響均幾乎可以忽略，詳細可參考附件論文。

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