● | 技術名稱 Technology | |||||||||
● | 發明人 Inventor |
呂學坤, 趙俊凱, | ||||||||
● | 所有權人 Asignee | 國立臺灣科技大學 | ||||||||
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點閱數:25 |
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為了提升快閃記憶體的良率,提出了一種新的修復流程。當測試錯誤資訊被傳出時,會先被傳入BIER (Built-In ECC Repair) 階段內,評估該製造上的錯誤能否在正常操作模式時是否可利用錯誤更正碼加以修復,當評估後無法使用錯誤更正碼修復後時才會使用備用元件進行修復。提出的方法也很容易整合於現有的測試、修復流程及硬體電路中。我們也開發修復模擬器,可以進行修復率 (Repair Rate) 的分析。根據實驗結果顯示,修復率與良率均可以被大幅度的提升,此外硬體成本、效能損耗和對可靠度的影響均幾乎可以忽略,詳細可參考附件論文。 |
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