國立台灣科技大學-專利商品網-專利推廣清單-檢測奈米孔道和奈米粒子界面電位之方法

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技術名稱 Technology

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發明人 Inventor

葉禮賢, 王俊翔, 蘇彥韶, 周宗翰,

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所有權人 Asignee

國立臺灣科技大學

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專利國家 Country	申請號 Application No.	專利號 Patent No.	中心案號 Serial No.	年費有效日期
中華民國	107109101	I650546	1100062TW0	2026/02/10

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技術摘要：

本發明提供一種檢測奈米孔道和奈米粒子界面電位之方法，主要運用奈米孔道內粒子受力的電動力學機制，搭配電流感測技術，正確地測得奈米孔道界面電位，再透過所測得的孔道界面電位，以進一步量測通過孔道的帶電奈米粒子界面電位，並且由於本發明人所提供之方法不需分析電流阻抗訊號的詳細圖譜，也不需要購置昂貴的標準品粒子，因此較過去方法精準許多且沒有限制，並具有大幅簡化量測過程及大幅降低量測成本之功效。此外，於針對軟性奈米粒子而言還能夠較為準確地感測出粒子的界面電位，進而提升本發明所提供之方法的價值。

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