國立台灣科技大學-專利商品網-專利技術-整合遮日機構之高動態成像天光輝度分佈採樣系統

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技術名稱 Technology

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發明人 Inventor

邱韻祥,

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所有權人 Asignee

國立臺灣科技大學

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專利國家 Country	申請號 Application No.	專利號 Patent No.	中心案號 Serial No.
中華民國	104107462	I536001	1040008TW0
美國	14/831,859	US9829376B2	1040008US0

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技術摘要：

透過遮日環與日照計的配置，將直射陽光(sun light)與天光(sky light) 分開測量，得到天光強度分布。測量過程，組件不再需要人工置換，大部分解決的舊有高動態天光攝影的限制。Chiou 之系統原型，已實證能不受直射日光的限制，以高於 IDMP sky scanner 五倍的資料更新頻率，於戶外數小時連續操作。日前使用 Vivotek 提供全周魚眼監視攝影機測試，更能以每分鐘一次的速率更新資訊。將可符合建築室內晝光應用控制系統中，即時天光強度分布採樣所需。

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