國立台灣科技大學-專利商品網-專利技術-高頻時間解析光電導量測系統

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技術名稱 Technology

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發明人 Inventor

陳瑞山, 楊紘瑋, 樊政軒, 何沁蓉, 劉芳辰,

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所有權人 Asignee

國立臺灣科技大學

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專利國家 Country	申請號 Application No.	專利號 Patent No.	中心案號 Serial No.
中華民國	108216932	M596348	1080051TW0
中國	202020723685.3	CN212622846U	1080051CN0

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技術摘要：

本創作揭露一種可量測半導體光電導的靈敏度，高頻反應與載子活期之系統。藉由函數產生器給與脈衝雷射一固定頻率，使其發射出高頻之光脈衝，並透過光路裝置導引雷射光並照射於待測物。待測物之光電導反應訊號則透過訊號採集裝置(包含自製電路與示波器或電表)量測獲得。本創作原理是透過待測半導體材料或元件在極短的雷射照光時間下，取得其電反應訊號，分析其反應頻率與解析其反應時間（即載子活期）。同時可測得材料在高頻光脈衝照射下的靈敏度（又稱光電流對暗電流比或稱on/off ratio）。由於光電導反應時間（載子活期）及靈敏度為決定半導體材料是否可應用於高頻與高敏度光偵測器的關鍵，因此本創作將整合上述功能於一個簡易操作的設備上，提供科研人員一個方便、快速、又準確的量測裝置。

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