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技術名稱
Technology
發明人
Inventor
呂學坤, 李紫琳,
所有權人
Asignee
國立臺灣科技大學

專利國家
Country
申請號
Application No.
專利號
Patent No.
中心案號
Serial No.
中華民國 102101601 I486961 1010081TW0
美國 13/940,353 8,929,166 1010081US0
 
點閱數:315
技術摘要:
為了提升非揮發性記憶體製程的良率以及改善可靠度,因此提出了一種新的測試和修復流程。製程上發生的錯誤,當顧客所提供的資料寫入後,考量到在邏輯上顯現的效應,提出了高遮蔽可能性的錯誤遮蔽技術以取代傳統的錯誤取代技術。所提出的方法也很容易整合於現有的內建自我測試電路中。我們開發故障模擬器可以進行修復率 (Repair rate) 的分析藉以控制成本,根據實驗結果顯示,修復率與製程良率均可以被大幅度的提升,除此之外硬體額外的負擔也幾乎可以被忽略,詳細可參考附件論文中之摘要。


 
   




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