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一種可量測純粹面內振動的光學架設方法
 
     
 
技術名稱
Technology
一種可量測純粹面內振動的光學架設方法
發明人
Inventor
黃育熙, 閻建佑,
所有權人
Asignee
國立臺灣科技大學

專利國家
Country
申請號
Application No.
專利號
Patent No.
中心案號
Serial No.
中華民國 104137246 I577976 1041082TW0
 
點閱數:394
技術摘要:
振動理論分析所獲得的面內振動模態往往與實際光學量測結果不一致,原因可能是在原光學架設系統中除了面內的效果,還附帶其他更強的振動分量導致低頻面內振動的成像並不正確,本發明系提供一種可濾除其他振動分量的即時面內振動模態的量測方法,利用虛像的拍攝及均時法來進行影像處理,相較於原始的方法可較準確的呈現出振動形態。


 
   




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