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用於校正雷射量測元件之方法及裝置
 
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技術名稱
Technology
用於校正雷射量測元件之方法及裝置
發明人
Inventor
林宗翰,
所有權人
Asignee
國立臺灣科技大學

專利國家
Country
申請號
Application No.
專利號
Patent No.
中心案號
Serial No.
中華民國 102148014 I489082 1020136TW0
美國 14/451,451 US 9275431 B2 1020136US0
中國 201410069290.5 申請中 1020136CN0
 
點閱數: 442
技術摘要:
本創作敘述一套用於雷射測量技術之校正方法與校正用之結構。本技術利用一貼有特徵點的平板,並於平板表面配置至少一個使線雷射可通過的狹縫,經過特定擺置即做為雷射測量之校正工具。欲校正的雷射測量元件包含了一組感光元件與一個線雷射。首先,我們將在雷射測量元件固定,接著調正校正平板方位,使雷射光可以通過平板上的狹縫,此時啟動相機拍攝平板上的至少四個特徵點,在已知特徵的平面座標位置之條件之下,我們可將相機所拍攝到的座標與平板上特徵的座標系進行仿射運算即可獲得線雷射於空間中的座標關係。


 
   




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