專利商品網


    快速搜尋        

 

zoomin      

技術名稱 Technology
發明人 Inventor
呂學坤,
所有權人 Asignee 國立臺灣科技大學

技術摘要:
為了提升非揮發性記憶體製程的良率以及改善可靠度,因此提出了一種新的測試和修復流程。製程上發生的錯誤,當顧客所提供的資料寫入後,考量到在邏輯上顯現的效應,提出了高遮蔽可能性的錯誤遮蔽技術以取代傳統的錯誤取代技術。所提出的方法也很容易整合於現有的內建自我測試電路中。我們開發故障模擬器可以進行修復率 (Repair rate) 的分析藉以控制成本,根據實驗結果顯示,修復率與製程良率均可以被大幅度的提升,除此之外硬體額外的負擔也幾乎可以被忽略,詳細可參考附件論文中之摘要。

相關圖片: